本儀器是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿(mǎn)足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必備的儀器。
本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
特點(diǎn)：
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
可使用 8 種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、F3、N400、N1、N3)；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯 768 個(gè)測(cè)量值；
具有測(cè)量數(shù)據(jù)瀏覽功能：可瀏覽所有測(cè)量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，并進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)的
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
具有與 PC 機(jī)通訊的功能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至 PC 機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
具有藍(lán)牙通訊功能：可連接藍(lán)牙打印機(jī)，手機(jī)或 PC;
具有電源欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
原理簡(jiǎn)介：
F探頭磁性法測(cè)量導(dǎo)磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金鋼、硬磁性鋼等，但不包括奧氏體鋼和軟磁性鋼等)上非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、錫等)的厚度。
N探頭渦流法測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫、奧氏體非磁性不銹鋼等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如：橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等)。
磁性法基本工作原理
磁性法：當(dāng)測(cè)頭接觸鐵磁基體(或其他磁性金屬)時(shí)形成一閉合磁路，由于涂鍍層的存在，穿過(guò)線(xiàn)圈的磁通量與涂鍍層厚度的變化會(huì)導(dǎo)致磁路磁阻發(fā)生變化，通過(guò)測(cè)量其變化便可通過(guò)計(jì)算導(dǎo)出涂鍍層的厚度。
渦流法基本工作原理
渦流法：當(dāng)測(cè)頭靠近金屬基體時(shí)，由于高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn) 生了電磁場(chǎng)，金屬基體會(huì)形成電渦流并對(duì)線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋，隨后通過(guò)測(cè)量反饋量的大小可推導(dǎo)出相對(duì)應(yīng)的厚度值。
涂鍍層測(cè)厚儀 PCE-CT 110
用于黑色金屬和磁性金屬上涂鍍層的測(cè)量。
PCE-CT 110涂鍍層測(cè)儀是通過(guò)技術(shù)性，它能、無(wú)損傷 地進(jìn)行涂 鍍層厚度的測(cè) 。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng) 通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿(mǎn)足多種測(cè) 的需要 PCE CT 110能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè) 金屬加工業(yè)、化工業(yè) 商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)的儀器解決了困擾大家許久的溫度漂移問(wèn)題，當(dāng)被測(cè)物與環(huán)境溫度偏差較大時(shí)，實(shí)測(cè)值與真實(shí)值差異大的難題.
探頭具有優(yōu)良的測(cè)值重復(fù)性。
功耗 正常工作電流小于3mA，可連續(xù)工作500小時(shí)以上;
突破性解決了溫度變化對(duì)測(cè) 結(jié)果的影響(解決了溫漂問(wèn)題)測(cè)量: 速度快 即使在統(tǒng)計(jì)狀態(tài)也可測(cè) 并適時(shí)統(tǒng)計(jì)，延時(shí)，采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚萬(wàn)法，既可測(cè) 磁性金屬基體上非磁性 蓋層的厚度.
涂鍍層測(cè)厚儀 PCE-CT 110用于黑色金屬和青色金屬測(cè)量
PCE-CT 110涂鍍層測(cè) 儀是通過(guò)**技術(shù)提升測(cè) 精準(zhǔn)性，它能快速、無(wú)損傷 精密地進(jìn)行涂 鍍層厚度的測(cè) 。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng) 通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿(mǎn)足多種測(cè) 的需要 PCE CT 110能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè) 金屬加工業(yè)、化工業(yè) 商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必備的儀器。
解決了困擾大家許久的溫度漂移問(wèn)題，當(dāng)被測(cè)物與環(huán)境溫度偏差較大時(shí)，實(shí)測(cè)值與真實(shí)值差異大的難題
探頭具有優(yōu)良的的測(cè)值重復(fù)性。
超低功耗 正常工作電流小于3mA，可連續(xù)工作500小時(shí)以上;
突破性解決了溫度變化對(duì)測(cè) 結(jié)果的影響(解決了溫漂問(wèn)題)快速測(cè)量: 速度快 即使在統(tǒng)計(jì)狀態(tài)也可快速測(cè) 并適時(shí)統(tǒng)計(jì)，毫無(wú)延時(shí)，
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚萬(wàn)法，既可測(cè) 磁性金屬基體上非磁性 蓋層的厚度
又可測(cè) 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電 蓋層的厚度，
可選自己 種測(cè)頭(F400 F500 F1 F1 F10 F3 N400 N1 N3) 具有兩種測(cè) 方式 連續(xù)測(cè) 方式 (CONTINUE 和單次測(cè) 方式 (5INGLE
真高兩種工作方式 直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì) .平均值 (MEAN 、*大值 (MAX *小值 (MIN測(cè)試次數(shù) (NO )、 標(biāo)準(zhǔn)偏差 (5. DEV)
可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
基本校;佳指示功能 友好的基本校準(zhǔn)界面，自動(dòng)提示當(dāng)前校;佳的點(diǎn)號(hào)
具青存貯功能 可存貯768個(gè)測(cè) 值
具有數(shù)據(jù)瀏覽功能 可瀏覽所有測(cè) 數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù);
探頭規(guī)格參數(shù)
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測(cè)頭型號(hào)
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F400/F500
|
F1
|
F1/90°
|
F3
|
F10
|
|
工作原理
|
磁 感 應(yīng)
|
|
測(cè)量范圍(um)
|
0～400/500
|
0～1250
|
0～3000
|
0～10000
|
|
低限分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
|
|
示值
誤差
|
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
|
±(3%H+1)
|
±(3%H+5)
|
±(3%H+10)
|
|
二點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
|
±((1～3)%H+0.7)
|
±((1～3)%H+1)
|
±((1～3)%H+5)
|
±((1～3)%H+10)
|
|
測(cè)
試
條
件
|
小曲率半徑(mm)
|
凸
|
1
|
1.5
|
平直
|
5
|
10
|
|
小面積的直徑(mm)
|
F3
|
F7
|
F7
|
F20
|
F40
|
|
基體臨界厚度(mm)
|
0.2
|
0.5
|
0.5
|
1
|
2
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
測(cè)頭型號(hào)
|
N400
|
N1
|
N1/90
|
N3
|
N10（定制）
|
|
工作原理
|
渦 流
|
|
測(cè)量范圍(um)
|
0～400
|
0～1250
|
0～3000
|
0～10000
|
|
低限分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
|
|
示
值
誤差
|
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
|
±(3%H+0.7)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+1)
|
±(3%H+25)
|
|
二點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
|
±[(1～3%H+0.7)
|
±[(1～3)%H+1.5]
|
___
|
±((1～3)%H+25)
|
|
測(cè)
試
條
件
|
小曲率半徑(mm)
|
凸
|
1.5
|
3
|
平直
|
僅為平直
|
25
|
|
小面積的直徑(mm)
|
F4
|
F5
|
F5
|
F7
|
F50
|
|
基體臨界厚度(mm)
|
0.3
|
0.3
|
0.3
|
無(wú)限制
|
5mm鋁箔
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
注：H——標(biāo)稱(chēng)值
附表2 測(cè)頭選用參考表
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覆蓋層
基體
|
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、
塑料和陽(yáng)極化處理等)
|
|
覆蓋層厚度不超過(guò)100um
|
覆蓋層厚度超過(guò)100um
|
|
如鐵、鋼等磁性金屬
|
（平面測(cè)量時(shí)）被測(cè)面積的直徑大于30mm
|
F400型測(cè)頭 0～400um
F1型測(cè)頭 0～1250um
|
F1型測(cè)頭 0～1250um
F5型測(cè)頭 0～5mm
F10型測(cè)頭 0～10mm
|
|
被測(cè)面積的直徑
小于30mm
|
F400型測(cè)頭 0～400um
|
F1型測(cè)頭 0～1250um
F400型測(cè)頭 0～400um
|
|
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬
|
被測(cè)面積的直徑
大于10mm
|
N400型測(cè)頭 0～400um
|
N400型測(cè)頭 0～400um
N10型測(cè)頭 0～10mm
|
|
被測(cè)面積的直徑
小于10mm
|
N400型測(cè)頭 0～400um
|
N1型測(cè)頭 0～1250um
N400型測(cè)頭 0～400um
|
測(cè)頭選用參考表(續(xù)表)
|
覆蓋層
基體
|
非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
|
|
覆蓋層厚度不超過(guò)100um
|
覆蓋層厚度超過(guò)100um
|
|
如 鐵、鋼等磁性金屬
|
（平面測(cè)量時(shí)）被測(cè)面積的直徑大于30mm
|
F400型測(cè)頭 0～400um
|
F400型測(cè)頭 0～400um
F1型測(cè)頭 0～1250um
F5型測(cè)頭 0～5mm
F10型測(cè)頭 0～10mm
|
|
被測(cè)面積的直徑
小于30mm
|
F400型測(cè)頭 0～400um
F1型測(cè)頭 0～1250um
|
F400型測(cè)頭 0～400μm
F1型測(cè)頭 0～1250um
|
|
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬
|
被測(cè)面積的直徑
大于10mm
|
僅用于銅上鍍鉻
N400型測(cè)頭 0～40um
|
--------
|
|
|
--------
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--------
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![]()
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)1、探頭1、電池3、基體1、標(biāo)準(zhǔn)片5、原產(chǎn)地證書(shū)1、手提箱。
