產品[
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
產品型號:
LEPTOSKOP 2042
產品展商:
其它品牌
產品文檔:
無相關文檔
簡單介紹
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進行開拓性工作的結晶。自從1950年推出的一臺LEPTOSKOP及隨后的研發(fā)工作，才有了目前的LEPTOSKOP 系列。 KARL DEUTSCH LEPTOSKOP 利用磁感應的方法確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度。另外 LEPTOSKOP 可以利用渦流法測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
的詳細介紹
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司（ KARL DEUTSCH ）的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進行開拓性工作的結晶。
簡介
多功能的儀器的準確測量技術，操作簡便。該方案通過一個快速解鎖代碼表示現(xiàn)場升級包括在內。該LEPTOSKOP 2042用于測量非磁性基片上磁性涂層（根據(jù)獲得DIN EN ISO 2178的厚度），并測量電非導電非磁性涂層的導電基板的厚度渦流方法手段（據(jù)了DIN EN ISO 2360 ） 。 在同一個舒適的工具的組合就像一個模擬指針顯示為一個類似Windows檔案管理和自由選擇10種不同語言的厚度值的可靠技術，滿足了一項雄心勃勃的用戶的所有愿望。 該LEPTOSKOP 2042年，是一個帶有電池壽命100小時以上的時間，經濟手段。 該儀器記錄的操作時間和數(shù)量的測量，所以這些重要的參數(shù)是正確的測試設備可追查本身。 彩色橡膠保護皮套包括在供貨范圍和保護與滑帶額外的保護功能，在工業(yè)環(huán)境中的工具。
特點
·大型圖形顯示48毫米× 24毫米
·校準選項
出廠校準，即刻準備測量
標定未知涂層*
零點校準*
一，多箔校準基底上無涂層*
標定涂層材料*
校準數(shù)據(jù)可以存儲在單獨的單獨校準文件，可以重新從那里加載
·佳顯示模式可選 適應的測量任務*
·輸入和限額監(jiān)測*
·與存儲的數(shù)據(jù)容易檔案管理，在Windows（三）
·實用的電腦軟件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·統(tǒng)計數(shù)字*
·統(tǒng)計評價多 999讀數(shù)
·小值，大值，平均值，讀數(shù)，標準差數(shù)，限制監(jiān)控
·當?shù)仄骄穸群屯繉雍穸龋ㄍㄟ^DIN EN ISO 2808 ）
·在線統(tǒng)計，在所有統(tǒng)計值一覽
技術參數(shù)
|
串行接口進行數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
|
|
電源，可通過電池，充電電池， USB或電源單元
|
|
測量范圍：
|
0 – 20000um（取決于探頭）
|
|
測量速度：
|
高達每秒2讀數(shù)
|
|
存儲：
|
高。在9999至140文件讀數(shù)
|
|
測量不確定度：
|
|
涂層厚度< 100um：1 ％的讀數(shù)+ / - 1um校準后
|
|
涂層厚度> 100um： 1 .. 3讀數(shù)+ / - 1um％
|
|
涂層厚度> 1000um： 3 .. 5讀數(shù)+ / - 10um％
|
|
涂層厚度> 10000um：5閱讀+ / - 100um％
|
|
普通型
|
|
鐵基膜層測厚儀標準套
|
2042F
|
|
|
非鐵基膜層測厚儀標準套
|
2042NF
|
|
|
鐵基/非鐵基膜層測厚儀標準套
|
2042
|
|
|
數(shù)據(jù)型
|
鐵基
|
2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱
|
2042 EF
|
|
|
2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱
|
2042DF
|
|
|
非鐵基
|
2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱
|
2042ENF
|
|
|
2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱
|
2042DNF
|
|
|
鐵基/非鐵基
|
2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱
|
2042 E
|
|
|
2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱
|
2042 D
|
|
附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里
